Programmerbare WLAN og Bluetooth low energy testplatforme
National Instruments nye løsninger til test af IEEE 802.11ac WLAN- og Bluetooth low energy teknologier understøtter høj fleksibilitet og ydeevne via brugen af programmerbare FPGA’ere.
National Instruments har introduceret nye testløsninger til IEEE 802.11ac WLAN- og Bluetooth low energy teknologierne, der kombinerer NI’s grafiske systemdesignsoftware og modulær, FPGA-baseret PXI-instrumentering, hvilket giver testingeniørerne et softwaredesignet testsystem med avancerede testegenskaber, der er komplet brugerprogrammerbar.
- Ved anvendelse af den softwaredesignede vektor signaltransceiver (VST) og WLAN målesuiten har vi forbedret vores testhastigheder med mere end 200 gange sammenlignet med traditionelle ’rack-and-stack’ instrumenter, og samtidig har vi også forbedret vores testdækning markant, oplyser Doug Johnson, director of engineering hos Qualcomm Atheros.
Den samlede løsning er ideel til karakterisering og produktionstest med klassens bedste RMS EVM (Error Vector Magnitude) på -46 dB for 256 QAM (Quadrature Amplitude Modulation)
Der er endvidere mulighed for at udføre målinger og skræddersyede algoritmer i den indbyggede FPGA i NI PXIe-5644R vektor signal transceiverne (VST’en) for at opnå hurtigere målinger og realtids test.
• NI PXI Express produktinformation: www.ni.com/80211ac
• White-paper: http://www.ni.com/white-paper/14058/en
National Instruments Danmark
Tlf.: 45 76 26 00
ni.denmark@ni.com
