Boundary Scan I/O modul håndterer op til 30V
Goepel electronic udvider ScanFLEX produkt porteføljen med Boundary Scan I/O modul til 30V.
Nu introducerer Goepel electronic SFX5212, der er endnu et I/O-modul til selskabets Boundary Scan hardware platform Scanflex. Det nye modul har 12 uafhængige programmerbare I/O-kanaler og er i stand til at håndtere spændinger op til 30 V.
Bag disse kanaler ligger den velafprøvede VarioCore teknologi til dynamisk konfiguration af modul-specifikke FPGA-baserede funktioner. Ved at kombinere strukturelle og funktionelle testprocedurer i en enkelt platform får brugerne mulighed for at øge testdækningen for ikke-Boundary Scan kredsløb eller perifere signaler med højere signalspænding. Udover at øge testkvaliteten kan test omkostningerne reduceres ved besparelse af separate testsystemer.
- SFX5212 modulet er specielt designet til at teste industrielle styringer eller elektronik til biler, hvor grænseflader med højere spænding typisk er integreret, siger Bettina Richter, Marketing Manager hos Goepel electronic.
- Modulet kan give en højere grad af fejldækning med variable funktioner til dynamisk test og dermed bidrage til højere proceseffektivitet for brugerne. Samtidig er det nye I/O-modul en vigtig hjørnesten i den systematiske udvidelse af vores Scanflex produktportefølje.
SFX5212 indeholder 12 kanaler med en driverydelse på op til 150 mA, og de kan programmeres uafhængigt som input, output eller tri-state. I/O spændingen kan programmeres internt i modulet eller kobles til en ekstern kilde. Modulet styres som en parallel bus uafhængigt af Bscan TAP’en via Scanflex. Hvis flere kanaler er nødvendige, kan flere moduler kaskadekobles.
VarioCore giver mulighed for at omkonfigurere hardwaren/funktionaliteten bag grænsefladen i SFX5212 til næsten ubegrænset funktionalitet med 'instrument' IP (Intellectual Property). Denne rekonfiguration udføres dynamisk på splitsekunder styret af Goepel electronic’s JTAG/Boundary Scan software platform System Cascon, hvorved antallet og rækkefølgen af rekonfigurationer er ubegrænset under afvikling af testsekvenser.
Mens modulet fungerer statisk i Boundary Scan tilstand, hvor alle procedurer såsom interconnection test eller cluster test understøttes, giver den funktionelle tilstand mulighed for at anvende modulet som protokol generator, data opsamler eller counter/timer for blot at nævne nogle få.
SFX5212 er fuldt understøttet i den integrerede JTAG / Boundary Scan software SYSTEM Cascon, inkl. Automatisk Test Program Generering (ATPG), debugging og pin-niveau fejldiagnose fra version 4.6.1. Det kan kombineres med alle typer af ScanFlex controllere og TAP transceivere.
Desuden kan modulet anvendes sammen med alle yderligere test teknologier såsom Processor Emulerings Test (PET) eller Chip Embeddede instrumenter inden for rammerne af den banebrydende Embedded System Access (ESA) filosofi.
EP-TeQ ApS
tlf. 87 48 06 08
www.ep-teq.com
